一、雪迪龙飞行时间二次离子质谱仪产品简介

SurfaceSeer S 飞行时间二次离子质谱仪（TOF-SIMS）是面向科研研发与工业质量控制打造的高性价比表面分析设备。仪器依托超低样品损伤技术与高效离子采集能力，专注完成各类常规材料表面化学成分精准解析，兼顾检测性能与采购使用成本，为材料科学研究、工业产品质控提供可靠的表面表征解决方案。

二、核心应用领域

适用场景覆盖高分子聚合物、无机薄膜、复合材料、生物材料等品类，可解决界面失效、表层污染物溯源、表面改性效果验证、薄膜组分筛查等常见研发与生产难题。

三、核心技术优势

1. 超高表面灵敏度，ppm 级别痕量检测

   可达 1×10⁹atoms/cm² 灵敏度，实现材料表层痕量元素、分子组分识别。

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3. 超低损伤静态分析，近乎无损样品检测

   搭载 5 kV Ar⁺/Cs⁺脉冲离子束、60 ns 超短脉冲技术，束流强度仅为连续束 1/1000，大程度避免离子束对样品表层造成破坏，适配易损伤聚合物、有机材料。

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5. 高信号采集效率，低产率材料稳定检测

   配置高传输效率反射式 TOF 分析器，即便聚合物这类二次离子低产率样品，信号计数仍可达 5000 cps，保障有效数据输出。

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7. 导电 / 绝缘样品通用检测

   内置电子脉冲电荷中和系统，消除绝缘样品荷电效应，无需复杂前处理，同时兼容导电、绝缘两大类样品。

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9. 快速正负模式同步分析

   1~2 分钟内完成高速正负 SIMS 切换检测，同步获取正离子、负离子信息，丰富组分识别依据。

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11. 可选专业标准谱库，简化物质解析

    可选配静态二次离子质谱标准谱库，内置 1900 + 标准谱图，覆盖 1000 余种常见材料，降低图谱解析门槛。

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四、仪器测量原理

SurfaceSeer S 采用 5 keV 脉冲铯离子枪（Cs⁺）或氩离子枪（Ar⁺）作为一次离子源；依靠 60 ns 超短脉冲工作模式（占空比仅 0.06%），大幅降低平均束流剂量，实现静态 SIMS 超低损伤表面分析。一次离子轰击样品表面产生二次离子，经由高效反射式飞行时间（TOF）分析器完成离子分离检测。系统在聚合物等低产率样品上依旧维持 5000 cps 稳定计数，是兼顾综合性能与投入成本的工业化 TOF-SIMS 解决方案。

五、整机系统构成